Please use this identifier to cite or link to this item: http://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625
Title: Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі
Authors: Шевчук, О. Ф.
Keywords: сегнетоелектричний рідкий кристал
діелектрична проникність
діелектрична спектроскопія
SmC* фаза
сегнетоэлектрических жидкий кристалл
диэлектрическая проницаемость
диэлектрическая спектроскопия
SmC* фаза
liquid crystal
permittivity
dielectric spectroscopy
SmC* phase
Issue Date: 2015
Citation: Шевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки". - 2015. - № 5 (90). - C. 226-232.
Abstract: Запропонувати методи встановлення наявності SmC* фази сегенето-електричного рідкого кристалу (чистого і допованого наночастинками). Діелектрична спектроскопія. Аналіз частотних залежностей компонент комплексної діелектричної проникності та температурної залежності провідності при змінному струмі. Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. Показано, що комплексний аналіз діелектричного спектру та температурної залежності провідності дає можливість однозначно встановити наявність SmC* фази чистого СЕРК і при наявності домішок. Розроблено ефективну і просту в реалізації методику визначення наявності сегнетоелектричної SmC* фази в чистих рідких кристалах та при наявності домішки.
URI: http://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625
Appears in Collections:Наукові публікації (статті)
Вісник КНУТД

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
V90_P226-232.pdf284.86 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.