Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorШевчук, Олександр Федоровичuk
dc.date.accessioned2016-02-08T13:09:09Z-
dc.date.available2016-02-08T13:09:09Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationШевчук О. Ф. Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристалі / О. Ф. Шевчук // Вісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки". - 2015. - № 5 (90). - C. 226-232.uk
dc.identifier.urihttps://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/625-
dc.description.abstractЗапропонувати методи встановлення наявності SmC* фази сегенето-електричного рідкого кристалу (чистого і допованого наночастинками). Діелектрична спектроскопія. Аналіз частотних залежностей компонент комплексної діелектричної проникності та температурної залежності провідності при змінному струмі. Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC* фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при зменшенні температури. Показано, що комплексний аналіз діелектричного спектру та температурної залежності провідності дає можливість однозначно встановити наявність SmC* фази чистого СЕРК і при наявності домішок. Розроблено ефективну і просту в реалізації методику визначення наявності сегнетоелектричної SmC* фази в чистих рідких кристалах та при наявності домішки.uk
dc.languageuk-
dc.subjectliquid crystalen
dc.subjectpermittivityen
dc.subjectdielectric spectroscopyen
dc.subjectSmC* phaseen
dc.subjectсегнетоэлектрических жидкий кристаллru
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьru
dc.subjectдиэлектрическая спектроскопияru
dc.subjectSmC* фазаru
dc.subjectсегнетоелектричний рідкий кристалuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectдіелектрична спектроскопіяuk
dc.subjectSmC* фазаuk
dc.titleДіелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації SmC* фази у рідкому кристаліuk
dc.typeArticle-
local.contributor.altauthorShevchuk, А. F.en
local.contributor.altauthorШевчук, А. Ф.ru
local.subject.sectionТехнології хімічні, біологічні, фармацевтичніuk
local.sourceВісник Київського національного університету технологій та дизайну. Серія "Технічні науки"uk
local.source.number№ 5 (90)uk
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації (статті)
Вісник КНУТД

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
V90_P226-232.pdf284,86 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.