Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/19543
Назва: Методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем
Інші назви: Methods to investigate computer microschems fairule
Автори: Ярмоленко, М. В.
Натрошвілі, С. Г.
Ключові слова: комп’ютерні мікросхеми
дифузія
дислокації
закони дифузії
енергія активації
математичне моделювання
computer chips
diffusion
dislocations
diffusion laws
activation energy
mathematical modelling
Дата публікації: 2021
Видавництво: Київський національний університет технологій та дизайну
Бібліографічний опис: Ярмоленко М. В. Методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем / М. В. Ярмоленко, С. Г. Натрошвілі // Інноватика в освіті, науці та бізнесі: виклики та можливості : матеріали II Всеукраїнської конференції здобувачів вищої освіти і молодих учених, м. Київ, 18 листопада 2021 року. – Т. 1. – Київ : КНУТД, 2021. – С. 346-355.
Короткий огляд (реферат): В статті розглянуто методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем в результаті проходження електричного струму: метод визначення часу безвідмовної роботи алюмінієвого дроту з мідним покриттям, метод обчислення профілю дифузійного дислокаційного конуса, метод розрахунку кута конуса біля вершини. Для аналізу використовуються літературні експериментальні дані.
The article considers methods of studying the failure of computer chips as a result of electric current: method of determining the time of trouble-free operation of aluminium wire with copper coating, the method of calculating the diffusion dislocation cone profile, the method of calculating the cone angle at the top. Literary experimental data are used for analysis.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/19543
Розташовується у зібраннях:Кафедра комп'ютерної інженерії та фундаментальних дисциплін (КІФД)
Інноватика в освіті, науці та бізнесі: виклики та можливості

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Innovatyka2021_V1_P346-355.pdf351,5 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.